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??GK-ICDT-B16
集成電路高溫動態(tài)老化系統(tǒng)
適用于各種封裝形式的大、中、小規(guī)模數字、模擬、數模混合集成電路,包括微處理器、邏輯電路、可編程器件、存儲器、A/D、D/A等器件的工作壽命試驗和高溫動態(tài)老煉篩選。
技術特點:
①一板一區(qū),可滿足16種不同試驗參數的器件同時老化。
②強大的圖形發(fā)生系統(tǒng),每板有可編程的64路數字信號和
4路模擬信號。
③完善、標準的老化器件庫及各種老化板,解決了用戶的后顧之憂。
heating
高溫加熱
內部加熱 保持不壞
真金不怕火煉,超強耐高溫
超級耐高溫
保持高品質
內部加熱原理
產品特點
高精度,高穩(wěn)定性
支持雙界面
熱阻測試和結構函數測試
采樣速率1MHz/s
支持多種方
式實現Sic器件功率循環(huán)
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支持雙界面
熱阻測試和結構函數測試
采樣速率1MHz/s
支持多種方
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服務熱線
0571-8585 6333
聯系郵箱:gk@hzgkdz.com
公司地址:浙江省杭州市余杭區(qū)閑林工業(yè)園裕豐路7號
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