国产福利一区二区精品免费_国产精品成人网_深夜福利在线看_国产人妖视频一区二区破除

<strong id="lhutj"><tbody id="lhutj"><thead id="lhutj"></thead></tbody></strong>

<strong id="lhutj"><sup id="lhutj"></sup></strong>

<samp id="lhutj"><li id="lhutj"><tbody id="lhutj"></tbody></li></samp>

<th id="lhutj"><sup id="lhutj"><dl id="lhutj"></dl></sup></th>

GK-ECBS-F8分立器件綜合老化試驗系統

適用于各種封裝（包括表面貼裝）形式的中、小功率二極管、三極管、場效應管、可控硅、集成穩壓器、光電耦合器、電阻等元器件的穩態壽命試驗（CFOL）和間歇壽命試驗（IFOL）和功率老煉篩選。

技術特點：

①一板一區，可滿足16種不同試驗參數的器件同時老化。

②被試器件DUT老化電源采用智能程控方式供給，極性自動轉換；

③數據庫加載導入，自動完成試驗過程，方便操作使用。

④完善、標準的老化器件庫及各種老化板，解決了用戶的后顧之憂。

產品特點

高精度，高穩定性

支持雙界面
熱阻測試和結構函數測試

采樣速率1MHz/s

支持多種方
式實現Sic器件功率循環

高精度，高穩定性

支持雙界面
熱阻測試和結構函數測試

采樣速率1MHz/s

支持多種方
式實現Sic器件功率循環

服務熱線

0571-8585 6333

聯系郵箱：gk@hzgkdz.com

公司地址:浙江省杭州市余杭區閑林工業園裕豐路7號

Copyright ? 2023 杭州高坤電子科技有限公司浙ICP備14010471號-1 浙公網安備 888883020888號