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Semiconductor discrete device 半導(dǎo)體分立器件試驗設(shè)備 Passive component test equipment 被動元件試驗設(shè)備 Monitoring system 設(shè)備集中監(jiān)視系統(tǒng) Internet of things platform 物聯(lián)網(wǎng)平臺 test equipment 試驗設(shè)備

半導(dǎo)體分立器件試驗設(shè)備

內(nèi)容建設(shè)中......

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高溫反偏試驗系統(tǒng)

系統(tǒng)能滿足各種封裝形式的二極管、三極管、半橋、場效應(yīng)管、可控硅、IGBT等系列器件在高溫高濕環(huán)境下進行反向偏壓試驗。

集成電路高溫動態(tài)老化系統(tǒng)

適用于各種封裝形式的大、中、小規(guī)模數(shù)字、模擬、數(shù)模混合集成電路，包括微處理器、邏輯電路、可編程器件、存儲器、A/D、D/A等器件的工作壽命試驗和高溫動態(tài)老煉篩選。

間歇壽命試驗系統(tǒng)

適用于各種封裝形式的二極管、三極管、MOSFET、IGBT等器件的間歇壽命試驗和穩(wěn)態(tài)壽命試驗。

高溫高濕反偏試驗系統(tǒng)

系統(tǒng)能滿足各種封裝形式的二極管、三極管、半橋、場效應(yīng)管、可控硅、IGBT等系列器件在高溫高濕環(huán)境下進行反向偏壓試驗。

高溫柵偏實驗系統(tǒng)

系統(tǒng)能滿足各種封裝形式的MOSFET、IGBT等器件的高溫柵偏試驗。

IGBT功率循環(huán)

適用于各種封裝的IGBT模塊進行K系數(shù)測試、穩(wěn)態(tài)熱阻測試及功率循環(huán)試驗。

服務(wù)熱線

0571-8585 6333

聯(lián)系郵箱：gk@hzgkdz.com

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