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GK-PC-X16間歇壽命試驗(yàn)系統(tǒng)
適用于各種封裝形式的二極管、三極管、MOSFET、IGBT等器件的間歇壽命試驗(yàn)和穩(wěn)態(tài)壽命試驗(yàn)。
技術(shù)特點(diǎn)：
①在試驗(yàn)的過(guò)程中實(shí)時(shí)測(cè)量樣品的結(jié)溫，并顯示結(jié)溫差。
②采用模塊化設(shè)計(jì)，每個(gè)模塊是一個(gè)獨(dú)立試驗(yàn)單元。每個(gè)模塊有獨(dú)立的試驗(yàn)腔體，真正做到板與板之間完全獨(dú)立。每個(gè)試驗(yàn)單元的風(fēng)道互不影響。
③在調(diào)試模式下，無(wú)論是開(kāi)通狀態(tài)還是關(guān)斷狀態(tài)下，均可以每隔一秒采集一次結(jié)溫Tj，描繪出完整的溫度變化曲線。可以防止在尋找試驗(yàn)條件時(shí)損壞器件。
④三極管的試驗(yàn)線路采用共基極試驗(yàn)線路，更能滿足宇航級(jí)產(chǎn)品的試驗(yàn)要求。
⑤設(shè)備上可配置K系數(shù)測(cè)試裝置。
heating
高溫加熱
內(nèi)部加熱 保持不壞
真金不怕火煉，超強(qiáng)耐高溫
超級(jí)耐高溫
保持高品質(zhì)
內(nèi)部加熱原理
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