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GK-MHDT-B16存儲器高溫動態老化測試系統
系統適用于各種封裝形式的SRAM，DRAM，SDRAM ，FLASH，DDR，RDRAM等器件進行高溫動態老化篩選，并且在老化過程中對被試驗器件(DUT)進行功能測試(TDBI)。
技術特點：
①一板一區，可滿足16種不同試驗參數的器件同時老化。
②具有強大的圖形發生及圖形測試能力。
③可根據用戶的需求，定制各種老化板及測試程序。
heating
高溫加熱
內部加熱 保持不壞
真金不怕火煉，超強耐高溫
超級耐高溫
保持高品質
內部加熱原理
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